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Semiconductor IC
| Imagen | parte # | Descripción | fabricante | Las existencias | Cuadros de trabajo | |
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![calidad [#varpname#] fábrica](http://www.scarceic.com/images/load_icon.gif){kind=icon}
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STSPIN32F0TR |
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STMicroelectrónica
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TSM103WAIDT |
En el caso de las máquinas de la categoría M1, el valor de las máquinas de la categoría M2 es el val
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STMicroelectrónica
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Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
IC OPAMP GP 4 CIRCUITO 14SO
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STMicroelectrónica
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TSV912AIYDT |
CIRCUITO 8SOIC DEL GP 2 DE IC OPAMP
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STMicroelectrónica
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Se aplicará el TSV912AIYST. |
IC OPAMP GP 2 CIRCUITO 8MINISO
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STMicroelectrónica
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Se trata de una serie de medidas de seguridad. |
CI CMOS 2 CIRCUITO 8SOIC
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STMicroelectrónica
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LF253DT |
CIRCUITO 8SOIC DE IC OPAMP JFET 2
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STMicroelectrónica
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LM2904ADMR2G |
IC OPAMP GP 2 CIRCUITO 8MSOP
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En el caso de las
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LMV824AIPT |
CIRCUITO 14TSSOP DEL GP 4 DE IC OPAMP
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STMicroelectrónica
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Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
CIRCUITO 8SOIC DE IC OPAMP JFET 2
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En el caso de las
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Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
CIRCUITO 8SOIC DE IC OPAMP JFET 2
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En el caso de las
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Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases. |
CIRCUITO 14SOIC DE IC OPAMP JFET 4
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En el caso de las
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LM2902DT |
IC OPAMP GP 4 CIRCUITO 14SO
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STMicroelectrónica
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Se aplicará el procedimiento siguiente: |
CIRCUITO 14TSSOP DEL GP 4 DE IC OPAMP
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STMicroelectrónica
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Se trata de un sistema de control de velocidad. |
IC OPAMP ZER-DRIFT 2CIRC 8MINISO
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STMicroelectrónica
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MC33078DT |
CIRCUITO 8SOIC DEL GP 2 DE IC OPAMP
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STMicroelectrónica
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Se aplicará el procedimiento siguiente: |
CIRCUITO 8SOIC DEL GP 2 DE IC OPAMP
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En el caso de las
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MC33072DR2G |
CIRCUITO 8SOIC DE IC OPAMP JFET 2
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En el caso de las
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Se trata de la siguiente información: |
IC OPAMP JFET 4 CIRCUITO 14SO
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STMicroelectrónica
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Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
IC OPAMP GP 4 CIRCUITO 14SO
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STMicroelectrónica
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Se aplicarán los siguientes requisitos: |
BAJA POTENCIA, 1,7 MHz, CARRIL A CARRIL
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STMicroelectrónica
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Se aplicará el procedimiento siguiente: |
IC OPAMP GP 1 CIRCUITO SOT23-5
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STMicroelectrónica
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Se aplican las siguientes medidas: |
La banda ancha de alta frecuencia (50MHZ)
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STMicroelectrónica
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Se aplicará el procedimiento siguiente: |
CIRCUITO 8SOIC DEL GP 2 DE IC OPAMP
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STMicroelectrónica
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TL084AIDT |
IC OPAMP JFET 4 CIRCUITO 14SO
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STMicroelectrónica
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LMV358IPT |
CIRCUITO 8TSSOP DEL GP 2 DE IC OPAMP
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STMicroelectrónica
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El TSZ181ILT |
IC OPAMP ZER-DRIFT 1CIRC SOT23-5
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STMicroelectrónica
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TSV358IDT |
CIRCUITO 8SOIC DEL GP 2 DE IC OPAMP
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STMicroelectrónica
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Se aplicará el TSV912IDT |
CIRCUITO 8SOIC DEL GP 2 DE IC OPAMP
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STMicroelectrónica
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Se trata de los siguientes: |
IC OPAMP JFET 4 CIRCUITO 14SO
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STMicroelectrónica
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El LMV324IDT |
IC OPAMP GP 4 CIRCUITO 14SO
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STMicroelectrónica
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LMV324IPT |
CIRCUITO 14TSSOP DEL GP 4 DE IC OPAMP
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STMicroelectrónica
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UA741CDT |
CIRCUITO 8SOIC DEL GP 1 DE IC OPAMP
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STMicroelectrónica
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TL062CDT |
CIRCUITO 8SOIC DE IC OPAMP JFET 2
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STMicroelectrónica
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LM258DT |
CIRCUITO 8SOIC DEL GP 2 DE IC OPAMP
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STMicroelectrónica
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LM2904DT |
CIRCUITO 8SOIC DEL GP 2 DE IC OPAMP
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STMicroelectrónica
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El TSV912AIDT |
CIRCUITO 8SOIC DEL GP 2 DE IC OPAMP
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STMicroelectrónica
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Se aplicará el procedimiento siguiente: |
CI CMOS 2 CIRCUITO 8SOIC
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STMicroelectrónica
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TSV911ILT |
IC OPAMP GP 1 CIRCUITO SOT23-5
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STMicroelectrónica
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Se aplicará el método de cálculo de las pérdidas. |
IC OPAMP JFET 4 CIRCUITO 14TSSOP
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STMicroelectrónica
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TL072CDT |
CIRCUITO 8SOIC DE IC OPAMP JFET 2
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STMicroelectrónica
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LM358DT |
CIRCUITO 8SOIC DEL GP 2 DE IC OPAMP
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STMicroelectrónica
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TS472IQT |
Las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo deberán ser realizadas en el lugar de ensayo.
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STMicroelectrónica
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Se aplicará el procedimiento siguiente: |
INTERFAZ DE TELECOMUNICACIONES IC 48VFQFPN
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STMicroelectrónica
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Se aplicará el procedimiento siguiente: |
INTERFAZ 56QFN DE LAS TELECOMUNICACIONES DE IC
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STMicroelectrónica
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Se aplicará el procedimiento siguiente: |
TRANSMISOR-RECEPTOR DE IC POR COMPLETO 2/2 16TSSOP
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STMicroelectrónica
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LM239DT |
Los resultados de la evaluación de la calidad de los productos se basan en los datos de los Estados
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STMicroelectrónica
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LM2903YPT |
Los resultados de la evaluación de la calidad de los productos se basan en los resultados de la eval
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STMicroelectrónica
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LM2903DT |
El número de unidades de producción es el siguiente:
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STMicroelectrónica
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LM339DT |
Los resultados de la evaluación de la calidad de los productos se basan en los datos de los Estados
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STMicroelectrónica
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